Interface & Surface Fabrication Laboratory

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測定器類

レーザ顕微鏡
オリンパス LEXT (OLS3100)

走査型電子顕微鏡 (SEM)
JEOL JSM-6390

原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope: AFM)
島津製作所 SPM-9500J3

光学顕微鏡

実体顕微鏡
NICON SMZ645

Ｘ線光電子分光分析装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy: XPS)

熱機械分析装置
SHIMADZU TMA-60

示査熱分析装置
SHIMADZU DTA-50

精密比重計
SHIMADZU AUX220+SMK-401

溶射粒子速度温度測定装置
TECNAR DPV-2000

マイクロビッカース硬さ試験機

オートグラフ

窒素酸化物測定器 (Nox計)

サーモグラフィー
Avio TVS-200EX(望遠レンズつき)

超音波探傷
OLYMPUS TomoScan FOCUS LT

粒度分布計
SHIMADZU SALD-7100

粉体圧縮試験機
SHIMADZU MCT-510